Rekomendacja produktu | Soczewka achromatyczna F-theta o potrójnej długości fali
Standardowe obiektywy skanujące laserowo są zazwyczaj projektowane dla jednej długości fali – zmiana lasera powoduje przesunięcie ogniskowej, rozmycie plam i rozmycie oznaczeń. Dwupasmowe obiektywy skanujące mogą korygować aberrację chromatyczną tylko pomiędzy dwiema długościami fali.
Soczewka skanująca Achromatic Scan Lens o 3 długościach fali to specjalistyczna soczewka skanująca, która jednocześnie eliminuje aberrację chromatyczną dla trzech różnych długości fal lasera. Wszystkie trzy długości fal mają ten sam zestaw optyczny; przełączanie między procesami wymaga jedynie zmiany źródła lasera, bez konieczności demontażu soczewki ani ponownego ustawiania ostrości. Dzięki temu idealnie nadaje się do wieloprocesowych systemów przetwarzania kompozytów.
Najczęściej spotykana kombinacja długości fal w przemyśle: 355 nm (UV), 532 nm (zieleń) i 1064 nm (IR).
Podstawowe zalety wydajności optycznej
1. Parfokalne wyrównanie trzech długości fali z zachowaniem stałej jakości plamki
Jednoczesna korekcja aberracji chromatycznej dla 355/532/1064 nm (lub niestandardowych kombinacji pasm RGB, UV-VIS-SWIR). Płaszczyzny ogniskowe wszystkich trzech długości fali pokrywają się, zapewniając spójną okrągłość plamki w całym polu skanowania, bez rozogniskowania osiowego ani zniekształceń chromatycznych krawędzi.
2. Wysoka precyzja przetwarzania kompozytów przy minimalnym błędzie pozycjonowania
Oprócz aberracji chromatycznej, optymalizowane są również krzywizna pola, dystorsja, aberracja sferyczna i koma. Wysoka dokładność liniowego skanowania f-theta umożliwia dobór długości fali w oparciu o specyficzne wymagania obrabianego przedmiotu. Wielodługościowa obróbka kompozytowa części znacząco poprawia ogólną precyzję obróbki.
3. Niska krzywizna pola i doskonała jednorodność plamki w całym polu
Scenariusze zastosowań
343 nm do usuwania materiałów organicznych, takich jak fotorezyst; 515 nm do usuwania metalu lub polikrzemu z warstw pasywacyjnych; oraz 1030 nm do usuwania ITO z warstw pasywacyjnych. Idealne do napraw i inspekcji wyświetlaczy panelowych.
Parametry produktu：
| Długość fali | 1030 nm i 515 nm i 343 nm |
| Średnica wiązki wejściowej | 10 mm |
| Efektywna ogniskowa (EFL) | 250 mm |
| Rozmiar punktu ostrości | 46,94–46,97 μm przy 1030 nm 23,62–23,76 μm przy 515 nm 15,69–16,37 μm przy 343 nm |
| Pole skanowania | 17×17 mm |
| Odległość robocza (WD) | 224,5 mm |
| Całkowita długość soczewki | 46 mm |
| Średnica zewnętrzna soczewki | Φ82 mm |
| Krzywizna pola | <0,1 mm |
| Zniekształcenie | <0,1% |
Istnieje możliwość dostosowania projektu do aktualnych wymagań.
Czas publikacji: 08-07-2026